在对扫描隧道显微镜模式研究的基础上, 首次提出“符合扫描”模式, 不但从理论上消
除了原有扫描模式带来的测量误差, 而且还使测量速度提高了70% 1 这种模式可以应用于几
乎所有扫描探针显微镜仪器的Z 轴反馈控制, 对原子量级信息读取速度和精度的提高具有
重要意义1