通过改进的水浴自组装技术,制备出由氧化石墨烯纳米片组成的氧化石墨烯(Graphene oxide, GO)薄膜,对该薄膜进行γ 射线辐照后采用扫描电子显微镜(SEM)、X 射线衍射光谱(XRD)对辐照前后的薄膜进行表征,分析辐照对GO薄膜的改性作用。结果表明,辐照后GO薄膜的层间距由0.94 nm 减小到0.80 nm,薄膜中GO 纳米片的平均厚度从1.69 nm 减小到0.86 nm,证明了γ 射线对GO 薄膜良好的还原效应,使GO纳米片的层间官能团减少并导致了层间距和厚度减小。本文还探讨了γ 射线辐照对GO 薄膜的还原机理。

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作者

孙宝骏,吴凡,许广昀,陈磊,徐志伟,赵亚娣,王航,张斌

期刊

辐射研究与辐射工艺学报

年份