用表面粗糙度评定方法和分形几何方法, 结合原子力ö摩擦力显微图象的特点, 编制了包
括R a , R q, S m , S, Ka , Kq 及高度分布、承载率曲线、相关函数、功率谱和分形维数等参数的图象分
析与测量的FORTRAN 程序; 用STR2180和STR21000标样作了高度标定, 对国产N ature 磁带
和进口Sony 磁带的原子力ö摩擦力显微图象进行了分析测量. 结果表明:N ature 磁带的粗糙度
和粒度均比Sony 磁带的大; 微摩擦力与表面轮廓及表面轮廓斜率之间均有良好的对应关系.