用X射线衍射仪检测薄膜的结构;用分光光度计测量薄膜的透射率和反射率,采用拟合正入射透射谱数据的方法计算薄膜的厚度;用Van der Pauw方法测量薄膜表面电阻和...
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作者
肖荣辉;林丽梅;郑明志;彭福川;郑冬梅
期刊
闽江学院学报
年份
用X射线衍射仪检测薄膜的结构;用分光光度计测量薄膜的透射率和反射率,采用拟合正入射透射谱数据的方法计算薄膜的厚度;用Van der Pauw方法测量薄膜表面电阻和...
肖荣辉;林丽梅;郑明志;彭福川;郑冬梅
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