用X射线衍射仪检测薄膜的结构;用分光光度计测量薄膜的透射率和反射率,采用拟合正入射透射谱数据的方法计算薄膜的厚度;用Van der Pauw方法测量薄膜表面电阻和...

论文下载
作者

肖荣辉;林丽梅;郑明志;彭福川;郑冬梅

期刊

闽江学院学报

年份